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        東信微波發明專利-一種用于互調測試的微波暗室(PIM互調暗室)

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        發明專利:一種用于互調測試的微波暗室

        發明名稱:一種用于互調測試的微波暗室
        專利號:ZL 2012 1 0323894.9(可在國家知識產權局查詢)
        申請日:2012-09-04
        授權公告日:2015-01-21

        專利證書:一種用于互調測試(PIM)的微波暗室

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