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        反射率的測量

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        1.弓形法 弓形法測試原理:將反射天線與接收天線對稱的安裝與圓弧上,該平面與吸波材料所在的平面互相垂直。由發射天線對吸波材料 產生激勵,其反射信號被接收天線拾取。再用理想的導電板取代吸波材料,測得其反射信號,最后將兩種反射信號相比較。通過將反射天線安裝與圓弧上的位置來改變入射角;與此同時接收天線作相應的移動。天線應該選取線極化天線,適當的轉動天線,即可改變極化方向。其優點是非接觸、非破壞性,能做高溫測試。但是由于邊形效應和測試試樣的大小限制,這種方法并不適合用在低頻段。見圖1使用弓形法測試系統

        2.微波時域法 ?微波時域法技術根據材料樣式的不同,分為兩種方法。第一種方法要求被測材料安裝在一封閉墻體的任一表面上,發射天線和接收天線距離吸波材料平面的距離應該小魚距離周圍其他任何平臺的距離。發射天線受到一窄脈沖的激勵向空間輻射電磁波,被吸收材料反射由另外一接收天線接收,然后將吸波材料替換為金屬平板,兩次測量得到的信號經過一定的數據處理后即可得到吸波材料在一定頻段內的反射因數,另一種應用時域反射技術的方法則是更多的從生產廠商的角度考慮。此法是利用脈沖發生器產生重復速率為50kHz、42v/400ps的高斯脈沖,經過一個耦合器分別送入兩個TEM喇叭天線,兩幅天線背向而立,其中一個面對被測試材料,將其反射信號接收回來后 送到示波器和計算機中處理;另外一個副天線主要是為了保護示波器的采樣頭。為達到此目的,兩副天線的規格應該盡可能的相同,時域反射技術最大的特點是可以有效的減少測試過程中由于入射而產生的測量誤差。該方法的應用頻率范圍是30MHz~1GHz。

        3. 密封波導測試法 ?弓形法存在試樣邊緣的散射效應,使得它的使用頻率一般不小于2GHz,測試樣品尺寸為18x180mm,若減小試樣邊緣的散射效應,則要求足夠大的試樣尺寸。對此若采用密封波導腔體可使得電磁場相對集中地限制在一個有限的空間內,由于不存在被測試樣邊緣散射的問題,即使在較低的頻率內,對試樣的尺寸幾乎沒有限制,密封波導測試法便是此類測試方法之一,使用與500MHz~1GHz頻率范圍。 這種方法將吸波材料安裝在波導管的終端面上。波導管硬具有適當的截面尺寸和長度;波導前端由特別設計的探針激勵出電磁波,能量通過波導管投射到終端吸波材料表面。若認為波導傳輸系統無損耗,則輸入端口的電壓駐波比即反應了吸波材料的吸收性能。

        4.低頻同軸反射法 ?該方法與波導測試法類似,同樣需具有適當的截面尺寸和長度,所不同的是將波導結構改為同軸線結構因而可激勵TEM波,模擬自由空間電磁波的傳輸規律。該方法沒有下限截止頻率,頻率上限不至于產生誤差。其截面形式有3種: a.外方內方 b.外方內線 c 外方內板 結構b的特性阻抗很高,對測試裝置與50Ω測試系統的匹配提出了很高的要求,并且測試的重復性很差所以不常用。同軸法比較準確的模擬了吸波材料在暗室內使用的實際情況,適用600MHz以下的頻率,但也有不足的地方,由于這種同軸線結構模擬了自由空間TEM波的傳輸情況,被測吸波材料和TEM進行方向垂直,因而測得反射因數僅僅是垂直入射的情況。

        除了上邊測試方法外,還有空間樣板移動發 、喇叭測試系統發、輻射計測量法和微波分光計測量法。

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